P1.18 Objektrekonstruktion in der Mikrowellen-Defektoskopie

T. Gagelmann, M. Nesterov, S. Wöckel, C. Li, S. Hantscher & J. Auge
Dieser Beitrag stellt die Ergebnisse eines geförderten Projekts vor, dessen Ziel es war, die erreichbare Auflösung bei der Mikrowellen-Defektoskopie mit niedrigen Prüffrequenzen zu verbessern. Bei niedrigen Prüffrequenzen, wie die im Projekt verwendeten 24 GHz, wird eine größere Eindringtiefe der Mikrowellen ins Material erreicht. Es treten aber auch vermehrt Beugungseffekte auf, die die erreichbare Ortsauflösung verschlechtern und die Klassifizierung von Defekten erschweren. Der im Artikel vorgestellte Ansatz verwendet eine der Messung nachgelagerte Analysetechnik, bei der die...
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